Perthometer M2便携式粗糙度测量仪

概述

此仪器的操作是基于久经验证的强大功能，使得仪器的设置如测量条件，系统语言和测量报告能方便的配置。MarSurf M2让您得到更到的测量功能和高效的测量灵活性。

与Perthometer M1对比，此设备不仅能满足测量的需要和测量参数的存档要求，还能使大多数的测量参数和特性曲线完全根据DIN/ISO/JIS标准的要求哦进行轮廓评定。

更多的，MarSurf M2 提供了内置的存储器，可用于存储高达200组测量结果和实现公差监测，垂直显示比例的调整，用于计算粗糙度峰顶数使用的不对称截止线设置。

Perthometer M2便携式粗糙度测量仪特点

·测量范围高达150μm

·测量单位μm/μin 可选

·评定标准：DIN/ISO/JIS 和CNOMO (Motif) 可选

·依照DINENISO4288/ASMEB461标准的测量长度选择：1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm；依照ENISO12085标准：1mm；2mm；4mm；8mm；12mm；16mm

·截止波长可从 1 至5自由选择

·完全依照标准的测量波长及测量长度自动选择

·依照DINENISO11562标准的相位修正轮廓滤波器

·可选择截止波长有0,25 mm/0,8 mm/2,5 mm(0,01 in/0,032 in/0,100 in)

·可选择短截止波长

·依照DIN/ISO/SEP标准的评定参数：Ra, Rz, Rmax, Rp, Rq, Rt, R3z, Rk, Rvk, Rpk, Mr1, Mr2, Mr, Sm, RPc；

·依照JIS标准的评定参数：Ra, Rz, Ry, Sm, S, tp; Motif

·标准的评定参数：R, Rx, Ar, W, CR, CF, CL (3-区域测量)

·可显示公差及输出测量报告中

·显示比例可自动或手动选择

·可打印R-轮廓(ISO/JIS), P-轮廓(Motif), 材料率曲线, 等测量报告

·测量报告可输出测量日期及时间

·内置存储卡可存储200组测量数据

·动态传感器校准

·锁定功能可避免仪器参数被意外修改并能设置任意密码保护

Perthometer M2便携式粗糙度测量仪主要技术指标

相对误差: ≤±5%

测量原理：指针电感触方式

测量范围：100 um

测量速度：0.5 mm/s

轮廓分辨率：12 nm

滤波：高斯