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| CH-12.7-STSX数显千分薄膜薄片测厚仪名称：千分数显塑料簿膜薄片台式测厚仪，分度值：0.001mm，测量范围与准确度：0mm～12.7mm ≤0.005mm，主要用途：适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（最大测量深度为80mm），执行标准：GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979 |
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CH-12.7-STSX数显千分薄膜薄片测厚仪
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名 称：
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千分数显塑料簿膜薄片台式测厚仪
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分 度 值：
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0.001mm
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测量范围与准确度：
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0mm～12.7mm ≤0.005mm
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主要用途：
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适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（更大测量深度为80mm）
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执行标准：
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GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
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